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  • OPTM 系列顯微分光膜厚儀

    OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目: ? 絕.對反射率測量 ? 多層膜解析 ? 光學常數分析(n:折射率,k:消光系數)

    更新日期:2024-09-25
    型號:OPTM 系列
    廠商性質:生產廠家
  • 高速相位差測量裝置 RE-200

    ● 可測從0nm開始的低(殘留)相位差 ● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) (相當于世界jie最zui快速的0.1秒以下來處理) ● 無驅動部,重復再現性高 ● 設置的測量項目少,測量簡單 ● 測量波長除了550nm以外,還有各種波長 ● Rth測量、全quan方位角測量 (需要option的自動旋轉傾斜治具 ● 通過與拉伸試驗機組合,可同時評價膜的偏光特性和光弾性 (本系統屬特注。)

    更新日期:2024-09-26
    型號:
    廠商性質:生產廠家
  • 高速LED光學特性儀 LE series

    ●與產線的控制信號同步 ●通過光纖的自由的測試系統 ●實現最短2ms~的光譜測量(LE-5400) ●同以往的產品相比,測量演算評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機型

    更新日期:2024-09-26
    型號:
    廠商性質:生產廠家
  • 高靈敏度近紅外量子效率測量系統 QE-5000

    可以測量0.01%或更低的單線態氧的產生量子產率。 單線態氧 (1270 nm) 的簡單直接光譜觀察 可在用于生物應用等的水性溶劑中測量。

    更新日期:2024-09-26
    型號:
    廠商性質:生產廠家
  • 高感度分光輻射亮度計 HS-1000

    采用具有高亮度和色度精度的光譜方法(衍射光柵), 0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量, 對應CIE推薦的寬波長范圍(355 nm至835 nm) 獨du特光學系統降低偏振誤差(1%), 并且像LCD一樣具有偏振特性的樣品也可以進行高精度測量 可以執行最短1秒的高速測量,包括通信時間。 (在連續測量的情況下,可以更快的進行測量,最短約20毫秒/次)

    更新日期:2024-09-26
    型號:
    廠商性質:生產廠家
  • 量子效率測量系統 QE-2100

    測量精度高 可瞬間測量絕對量子效率(絕對量子收率) 可去除再激勵熒光發光 采用了積分半球unit,實現了明亮的光學系統

    更新日期:2024-09-26
    型號:
    廠商性質:生產廠家
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